優(yōu)勢：

    大量、多種隔膜密封材料和過程連接

    HistoROM/M-DAT 記憶存儲單元，可回溯儀表設定與測量值

    根據(jù)IEC 61508開發(fā)與設計，適用于SIL2/3安全系統(tǒng)（*小，*大，范圍）

    從測量薄膜到電子器件的過載保護與功能監(jiān)控

    快速設置菜單可快速設置基本調試參數(shù)，菜單引導式操作，提供高級故障診斷功能。擁有無縫、獨立的系統(tǒng)集成       (HART/PA/FF)

    氣密引線提供標準的第二道防線

    全新TempC膜片，*小化溫度的影響，恢復時間短

    應用領域

    雙腔室鋁或不銹鋼 (316L) 外殼

    過程鏈接：螺紋，法蘭或衛(wèi)生型連接

    溫度范圍：-70 至 +400°C (-94 至 +752°F)

    壓力范圍：+100mbar 至 +400bar (+1.5 至 +5.800psi)

    精度誤差：±0.075%, "鉑金型" ±0.05% EHEDG

    國際防爆保護認證，WHG過溢防護，EN 10204-3.1，海上認證，3A認證